1、跌落测试介绍：
跌落测试是主要用来模拟未包装或者已包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落损伤，检验产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准，落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面（如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定）。
对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同，例如：手持型产品（如手机, MP3等）大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC对于≦2kg的手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，而MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品（如手机）则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。中鉴检测可靠性实验室包装跌落试验机，最高可跌落200cm。
跌落试验高度：
应从下列诸值中选取跌落高度:
(25)、50、(100)、250、(500)、(1000)mm。
带括号的数值是优选值。
注：重型设备不宜经受较高的严酷等级。
针对跌落实验国家有专门的标准，跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体，跌落的高度是根据产品重量而定。
跌落试验流程：
通常情况下可以参照中鉴检测检测可靠性实验室的步骤：
（1）试验前样品的准备；
（2）试验前对测试产品的功能、安全及外观进行检查，确定正常之后方可进行跌落试验
（3）按规定的方法包装样品（参照生产指令或规格书），且配件不可漏放；
（4）若对封箱有特别要求（如打带）则按要求进行，若无特别要求则：包盒用2寸透明胶纸封箱，外卡通箱用3寸透明胶纸封箱；
（5）测试样品不可少于2整箱或4PCS成品；
（6）跌落顺序；
（7）接缝边之底角。
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